采用X射线粉晶衍射仪实现岩石薄片中矿物的原位微区分析
【出 处】:
x射线粉晶衍射仪
岩石薄片
原位微区
方沸石
【作 者】:
肖平
[1,2] ;
陆琦
[1] ;
于吉顺
[1]
【摘 要】采用帕纳科(PANalytical)公司生产的型号为X\pertPRO的X射线粉晶衍射仪,对鄂尔多斯盆地方沸石岩薄片中的方沸石进行原位微区衍射,成功地确定了方沸石的物相。此次实验中,仪器在入射光路,配备点光源和光导毛细管,毛细管直径为1'00urn;衍射光路上则使用了超能探测器(X’Celerator)。实验条件为:加速电压40kV,电流40mA,Cu靶,Ni滤波。将获得的方沸石衍射数据与编号为41—1478标准卡片对比,发现实验结果具有一定程度的定向性。在此基础上,提出微区X射线粉晶衍射方法的样品需满足两个要求:1)矿物颗粒的粒径小于30um;2)在X光束照射的区域内,同种矿物的颗粒要含量集中。该方法与电子探针分析相结合,可以更准确地鉴定矿物。
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